تحلیل داده‌ XRD در GSAS-II

آنچه یاد خواهید گرفت:

• نصب GSAS-II - یک نرم‌افزار رایگان تحلیل داده‌ XRD
• تحلیل داده‌ XRD: ترسیم ساده و اصلاح در GSAS-II
• اصلاح Rietveld داده‌ XRD از فایل‌های داده مختلف
• تحلیل و تفسیر داده‌ XRD از داده‌ ماشین تا یک گراف قابل انتشار

پیش نیازهای دوره

• درک اولیه از پراش پرتو ایکس (XRD) و نقش آن در مطالعه ساختارهای بلوری

توضیحات دوره

این دوره یک مقدمه جامع به تحلیل داده‌ پراش پرتو ایکس (XRD) با استفاده از سیستم تحلیل ساختاری عمومی (GSAS) ارائه می‌دهد. شرکت‌کنندگان اصول بنیادی XRD، از جمله جمع‌آوری، پردازش و تفسیر داده‌ را خواهند آموخت. این دوره عملکردهای ضروری GSAS برای شناسایی فاز، اصلاح واحد سلول و تعیین ساختار بلوری را پوشش می‌دهد. تأکید ویژه‌ای بر اصلاح Rietveld، یک تکنیک قدرتمند برای استخراج اطلاعات بلوری دقیق از داده‌ XRD، خواهد شد.

دانشجویان زمینه نظری اصلاح Rietveld را بررسی کرده و یاد خواهند گرفت چگونه آن را به مواد مختلف اعمال کنند. این دوره دستورالعمل‌های دقیقی در مورد راه‌اندازی و اجرای اصلاحات، تفسیر خروجی اصلاح و ارزیابی کیفیت نتایج ارائه می‌دهد. موضوعات اضافی شامل پرداختن به چالش‌های رایج در تحلیل داده‌ XRD، مانند مقابله با جهت‌گیری مورد پسند و ناهمگونی نمونه است.

در پایان دوره، شرکت‌کنندگان با مهارت‌های لازم برای انجام تحلیل داده‌ XRD دقیق و قابل اعتماد برای انواع کاربردهای علوم مواد آشنا خواهند شد. آن‌ها همچنین درک عمیق‌تری از قابلیت‌ها و محدودیت‌های GSAS و اصلاح Rietveld پیدا خواهند کرد. این دوره برای دانشجویان تحصیلات تکمیلی، محققان و متخصصان علوم مواد، شیمی، فیزیک و زمینه‌های مرتبط که به دنبال بهبود تخصص خود در تحلیل داده‌ XRD با استفاده از ابزارهای نرم‌افزاری پیشرفته هستند، ایده‌آل است.

با تأکید بر درک نظری و کاربرد عملی، این دوره دانشجویان را برای استفاده مؤثر از GSAS در پروژه‌های تحقیقاتی خود آماده می‌کند و به آن‌ها این امکان را می‌دهد که نتایج با کیفیت بالا در تحلیل‌های XRD خود بدست آورند.

این دوره برای چه کسانی مناسب است؟

• دانشجویان و محققان در علوم مواد و شیمی
• متخصصان آزمایشگاه‌های آنالیز
• متخصصان آکادمیک و معلمان
• هر کسی که به تحلیل داده‌ پیشرفته علاقه‌مند است.